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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1

Applications and Metrology at Nanometer Scale 1

von: Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
256

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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2

von: Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
288

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

von: Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag:
Preis:
139,99 €
Format:
EPUB
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
316

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

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von: Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1

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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2

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von: Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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englisch
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